선문대학교 지능제어연구실(책임교수 고국원, 이하 연구실)은 2002년 설립돼 전자부품 생산 자동화 공정 중에서 핵심 기술인 영상 처리 기술을 이용한 최신 3차원 시각 검사 자동화 장치 개발과 관련된 과제를 수행하고 있다. 3차원 측정 검사 장치는 초소형 전자 부품과 디스플레이 제조 공정과 반도체 공정 뿐 아니라 바이오 신약 개발 공정에도 핵심 기술로 사용되고 있다.

3차원 검사 장치는 최근 일본과 미국을 비롯하여 선진국들이 주축이 되어 개발하고 있는 나노 기술의 한 분야이다. 나노 기술의 발전은 반드시 3차원 검사를 통하여만 이루어지기 때문이다. 이러한 3차원 측정 및 검사 기술의 핵심 기술은 측정 및 검사 대상물에 손상이 가지 않는 비접촉식이어야 하고, 빠른 측정 속도를 얻어야만 한다. 연구실은 이러한 측정 검사 기술의 속도를 높이기 위해서 병렬 처리 원리를 적용해 연구를 하고 있다.

연구실이 보유한 원천 기술로는 광학계 고속으로 이송하면서 카메라에서 영상을 획득하기 위한 Opto-Mechatronics 최신 기술과 병렬 컴퓨터를 이용한 고속 연산 기법이다. 이러한 기술은 백색광 간섭계 및 공조첨 현미경 기술에 적용되어 세계 최고 속도의 3차원 검사기를 개발할 수 있는 원동력이 되고 있다. 연구실 관계자는 “올해 기존 공초점 현미경의 측정 속도보다 200배 이상 빠른 공초점 현미경의 시작품 개발을 완료할 것이다”라고 귀띔했다. 올해만 연구실은 개발된 기술을 바탕으로 4개의 신규 원천 기술에 관한 특허를 출원하였으며 확보된 기술을 요청 기업으로 이전하였다.

고국원 책임교수는 “고속 3차원 측정 기술의 개발은 전자부품과 디스플레이 산업 및 반도체 산업에서 검사 및 측정 장비의 수입 대체 효과 뿐 아니라 핵심 기술을 수출할 수 있다”고 밝혔다. 이러한 기술 개발의 원동력은 학부생부터 연구실에서 생활을 하면서 연구 보조원으로 투입되어 대학원생이 되어서는 본격적으로 연구할 수 있는 기반을 갖추게 된 것이다. 지능제어 연구실의 학부생과 대학원생은 졸업 전 이미 기업체에서 취업 러브콜이 쇄도하고 있다.


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