기초지원연 김진규 박사팀이 개발중인 보급형 투과전자현미경.[한국기초과학지원연구원 제공]

[헤럴드경제=구본혁 기자] 전자현미경은 분석하고자 하는 시료를 나노 또는 원자수준에서 직접 관찰할 수 있는 첨단연구장비입니다. 분석방식에 따라 주사전자현미경(SEM)과 투과전자현미경(TEM)으로 구분됩니다. 이중 100% 수입에 의존하고 있는 투과전자현미경은 수십억원에 달하는 높은 가격과 고성능에 초점이 맞춰져 있어 국내연구자들은 장비 구입에 큰 어려움을 겪고 있는 상태지요.

이와 관련 한국기초과학지원연구원 환경소재분석본부 김진규 박사팀은 이 같은 투과전자현미경의 국산화에 도전장을 던졌습니다.

연구팀이 개발중인 보급형 투과전자현미경은 나노수준의 분석 및 관찰이 가능하기 때문에 연구자들의 수요를 충족시킬 수 있으며, 기업체, 병원, 학교 등에 보급될 수 있을 것으로 전망되고 있습니다.

투과전자현미경은 분석과학 연구장비 중에서 기술집약적이고 높은 정밀도가 요구되는 장비입니다.

전자광학이론을 기반으로 물리, 기계, 전기, 전자, 컴퓨터공학 등 많은 분야의 지식이 활용되기 때문에 공동연구가 필수적입니다. 김 박사 연구팀은 표준과학연구원, 기계연구원, 국산전자현미경업체 코셈과 협력체계를 구축해 투과전자현미경의 중요핵심기술인 전자빔 검출기도 개발에 착수한 상태입니다.

연구팀은 현재 전자빔, 진공, 광학계 등에 대한 정밀 튜닝작업을 통해 국내 최초 전자빔 검출기 하드웨어를 제작하고 영상소프트웨어 개발에 박차를 가하고 있습니다.

김진규 박사는 “보급형 투과전자현미경 시작품 제작이 완료되면 이후에는 국내 전문기업에서 국산화 및 상용화 시작이 가능해질 것”이라며 “연구자들이 끝까지 포기하지 않고 개발에 성공할 수 있도록 적극적 지원과 국산 연구장비에 대한 관심을 보내주길 바란다”고 말했습니다.

nbgkoo@heraldcorp.com