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  • ‘30m이내 정확도’ 스마트폰 위치측정 기술 개발
KAIST 공승현 교수 연구팀
KT와 협력 기술상용화 추진


공승현(왼쪽 3번째) 교수와 연구진들이 기념촬영을 하고 있다. [KAIST 제공]

국내 연구진이 평균 30m 이내의 정확도를 갖는 스마트폰 위치 측정 기술을 개발했다.

한국과학기술원(KAIST) 공승현 교수 연구팀은 LTE 신호만을 이용해 실제 환경에서 30m 이내의 정확도를 갖는 스마트폰 위치 측정 기술 개발에 성공했다고 16일 밝혔다.

이번 연구에는 ‘LTE 핑거프린트’(Fingerprint) 기법이 활용됐다.

LTE 핑거프린트 기법은 LTE 신호의 전파 특성을 이용하여 각 단위 지점에서 수신되는 LTE 신호의 전파 특정 패턴을 데이터베이스(DB)로 저장하고, 임의의 단말기에서 측정된 전파 특성 값과 비교해 위치를 파악하는 것이다. 이것은 도심과 같이 높은 빌딩으로 둘러쌓인 지역에서 무선 전파의 다중 경로로 인한 오차를 피할 수 있다는 장점을 가지고 있다.

현재 스마트폰에서 가장 많이 사용되고 있는 GPS 등 위성항법시스템은 높은 빌딩으로 둘러 쌓인 도심 지역과 실내에서 오차로 위치 측정 성능이 저하되는 치명적인 문제가 있다.

연구팀은 스마트폰에서 얻을 수 있는 LTE 기지국 신호에 대한 다양한 측정치를 일정 위치마다 수집해 이를 LTE 핑거프린트(Fingerprint) 데이터베이스로 저장했다.

이후 임의의 사용자 스마트폰에서 측정한 LTE 신호 측정치를 서버로 전달한 후 그 측정치를 LTE 핑거프린트 데이터베이스와 비교해 스마트폰의 위치를 파악했다. 그 결과 KAIST 교내, 주변 아파트 및 상업단지, 광화문 일대부터 인사동에 이르는 서울 도심에서 시연해 평균 30m의 오차를 갖는 성능을 확인했다.

공승현 교수는 “5G에서는 LTE보다 2배 높은 평균 15m 내외의 측위 정확도를 얻을 수 있다”고 말했다.

연구팀은 KT와 협력해 기술 상용화를 추진하고 있다.

구본혁 기자/nbgkoo@heraldcorp.com
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